電気特性検査装置

各種半導体（IGBT、IPM、SiC等）の検査・評価のシステムをご紹介します。テスタ＋ハンドリング設備をワンストップでご提案し、お客様の問題解決に当たります。

あらゆる半導体関連製品の検査・評価が可能！

パワー半導体チップ: IGBT、SiC、Si

パワーモジュール: PM、IGBT-M、Mos-M

IPM: DC / DCコンバータ、IPM（インテリジェントパワーモジュール）

その他: INV（車載用インバーター）、eAxle関連部品

その他、ご要望ございましたらお気軽にお問い合わせください。

特長
コアユニット
評価ソリューション事例

特長

新東は、各検査装置をお客様の使い勝手に合わせワンストップでご提案します。

テスタ＋ハンドリング設備

テスタ＋ハンドリング設備をお客様の使い勝手に合わせたカスタマイズが可能

例）インバータモジュール向け電気特性検査装置

動特性検査＋静特性検査

静特・動特性の複合測定に加え、プロービング、ハンドリングを含めた計測ソリューションをご提案

例）インバータチップ（素子）向け電気特性検査装置

コアユニット

パワーモジュールテスター（インバータモジュールの電気特性を検査）

自社開発した電源･標準計測ユニットを中心とした、市販計測器の制限にこだわらない独自の検査環境を提案致します。

特長

装置のコンパクト化

耐電圧（VR/IR）スターと熱抵抗テスターをユニット化し1台に集約

カスタマイズが容易

力モジュール型構造のため、お客様ニーズに合わせた改造・メンテナンスが容易

サイクルタイムの短縮

汎用テスターと比較しサイクルタイム1/6を実現（当社比）

機能

機能別ユニット構造（組み合わせが自在）
スキャナユニットは最大64素子に対応
広い動作温度範囲： 10～40℃
システム中核をパソコンレス化

評価ソリューション事例

インバータ系の評価ソリューション事例

半導体検査装置チップハンドラ

ダイシング工程後の半導体チップ単体のハンドリング、プロービング、及び電気特性検査結果によるランクを選別します。

特長

2.4sec/チップの高速ハンドリング
インデックス方式による高スループットを実現
AC特性～DC特性の連続測定
上検査ステージ温調にてMAX200℃の高温測定も可能
画像処理による高度なプロービング技術
独自に開発したOCLプローブカードを採用
チップ単体でのトレーサビリティに対応
多品種対応、品種登録も容易で開発用途にも最適

インバーターモジュールの電気特性検査　PMテスター

電気自動車やハイブリッド自動車に搭載されるインバータモジュールの電気特性を検査します。

特長

耐電圧(VR/IR)テスターと熱抵抗テスターをユニット化して1台のラックに集約
計測器からアプリケーションまでの全てを自社設計・製作の為、市販測定器の制限に拘らない独自の提案が可能
ご要望に応じてユニット単体でのご提供も可能

EVやHVのモーター駆動用PCU、IPM検査

自己保護機能、電力変換機能等を評価、開発セクションでの商品性能評価からラインでの全数検査まで幅広く対応が可能です。

機器構成

検査ユニット
ドライブユニット
直流安定化電源(ワーク供給用)
バーコードリーダー
パワーメーター
パソコン＆PLC：2台
3相L負荷
スキャナー